如何用多波長近場光線集準(zhǔn)確模擬光源系統(tǒng)

隨著LED等新型光源技術(shù)的發(fā)展，在各個領(lǐng)域里面得到廣泛應(yīng)用，而對于照明，如何得到一個優(yōu)化的燈光效果通常需要用近場光線集進行光學(xué)模擬燈具設(shè)計效果；常見的白光LED光源的光線文件通?；诮鼒龅膬蓚€波長區(qū)域的測量，一個在藍色區(qū)域，一個在黃色區(qū)域。此數(shù)據(jù)可用于描述光線的基本效果，例如在使用LED芯片中遇到的角度-顏色偏移。然而，僅有兩個波長區(qū)域近場測量的數(shù)量太少，限制了在使用這些數(shù)據(jù)模型去模擬真實情況的場景。特別是對于小型的光學(xué)系統(tǒng)中，比如車燈照明，光源的尺寸在整個光學(xué)系統(tǒng)相對較大，光源模型需要多的細節(jié)，比如更多光譜通道的近場數(shù)據(jù)；

光學(xué)模擬的目標(biāo)是盡可能真實地對系統(tǒng)進行建模和仿真。也就是需要更真實的“光線”信息，光線與許多物理量相關(guān)聯(lián)，它包含一組在空間中的坐標(biāo)和傳播方向，同時也經(jīng)常包括輻射或光通量值信息。對于一個完整的光源模型，每條光線都需要與波長相關(guān)聯(lián)，光線集包含的光線也需要能表示光源的光譜。基于這種光線集才可以地模擬折射和色散效應(yīng)。同時也能評估出射光分布的光譜，并從光譜中導(dǎo)出諸如顏色坐標(biāo)或顯色指數(shù)等信息。

例如，考慮一個典型的白光LED封裝，該封裝由一種或多種顏色的led芯片組成，并與發(fā)光涂層結(jié)合在一起。藍色LED芯片的藍光通過涂層轉(zhuǎn)換成更高波長，紅色LED芯片可用于調(diào)節(jié)該封裝發(fā)射光譜的色溫和顯色指數(shù)。

這種封裝出射光線的光譜形狀會隨著觀察角度變化。不同觀察角度下光譜的藍色與紅色峰值的比率會變化，此外，光譜也隨著觀察位置隨著接近藍色或紅色芯片而變化。這些特征需要在光線數(shù)據(jù)中體現(xiàn)。

如今，光源的光譜特性在光線集中的細節(jié)程度仍有不足。一種常見的光源測試方式是使用兩個光譜濾光片測量光源，一個測藍色，一個測黃色，并產(chǎn)生包含兩個代表性波長的光線集。雖然這樣可能足以模擬某種程度的色散，并解釋隨角度產(chǎn)生變化的光譜，但仍不足以準(zhǔn)確模擬出射光的顏色特性。

另一個方法是將三刺激值x、y、z包含在每條光線中。這可以模擬出色坐標(biāo)，但不能用于模擬光學(xué)系統(tǒng)中的色散效應(yīng)或CRI這樣需要從光譜中導(dǎo)出的參數(shù)。

目前，光源模型缺乏足夠的數(shù)據(jù)全面描述光源的光譜特性。本文旨在介紹德國Opsira公司生產(chǎn)的多光譜近場測試儀，生成的光線模型細節(jié)。下面的例子中，一個多芯片白光LED用于一個光學(xué)系統(tǒng)，使用了TIR器件和一個聚光鏡用于顏色混合。并將模擬混色后的色度參數(shù)與實際測量值進行了比較。

測量和仿真

用于測量和模擬的LED樣品如圖1所示。這張照片顯示了LED封裝的發(fā)光面和4個LED芯片的連接線，一個紅色LED和三個藍色LED。測量時，LED安裝在圖1中的測角裝置上（見灰色箭頭）。

圖一：測試裝置和芯片

芯片的位置如圖2所示，顯示的是用不同帶通濾波器拍攝的輻射圖像。左邊的圖片是用藍色濾光片拍攝的曝光圖片，它顯示了三個藍色芯片的位置。中間的圖像是用紅色的濾光片拍攝，它顯示了紅色芯片的位置以及從頂部發(fā)出的光輻射。右邊的圖片顯示了用靈敏度v（λ）濾波器拍攝的圖像，它包含整個芯片封裝出射光線的所有光譜。

圖二：使用不同濾波器拍攝的圖像

圖3顯示了不同觀察角度的發(fā)射光譜。當(dāng)從頂部（角度=0°）觀察時，光譜的紅色峰值超過藍色峰。但在靠近紅色LED芯片位置觀察，隨著視角的增加，光譜的形狀會發(fā)生變化，藍色峰超過紅色峰值。

圖三：不同角度的光譜

類似于這樣的發(fā)光特性需要體現(xiàn)在光線數(shù)據(jù)中：出射光譜在同角度不同位置的變化，以及光譜受角度的影響。為此，使用了圖4所示的一組帶通濾波器來拍攝樣品亮度圖像。

圖四：測量光線使用的帶通濾光片

圖四中顯示了濾光片的歸一化傳輸特性曲線，測量距離離樣品上相等。對于每個濾波器拍攝輻射圖像并生成一個獨立光線數(shù)據(jù)集。

選擇帶通濾波器不僅要考慮光學(xué)分辨率，還要有良好的透光性，透光性會影響相機的曝光時間，從而影響測量的總時間。根據(jù)不同的目標(biāo)，可以使用不同的濾光片組合。這里用于測量的濾光片包含三激勵濾波器x、y、z，并補充額外的5個帶通濾波器。

為了對樣品進行完整的模擬，用安裝在測角裝置上的光譜輻射計記錄樣品的發(fā)射光譜。光譜輻射計記錄的數(shù)據(jù)間隔5nm，然后對樣本上方所有觀測點數(shù)據(jù)進行匯總。這樣得到了波長間隔5nm樣品的輻射通量數(shù)據(jù)文件。圖5顯示了記錄的輻射通量情況。

圖五：輻射通量

圖6是使用”光線集”數(shù)據(jù)建模的光學(xué)系統(tǒng)。它由LED封裝、準(zhǔn)直和聚光光學(xué)元件組成。該系統(tǒng)設(shè)計的目的是在屏幕上產(chǎn)生均勻的照明分布，并確保整個屏幕的顏色坐標(biāo)保持恒定。在模擬中，屏幕設(shè)置在距離LED封裝1米處。

圖六：光學(xué)系統(tǒng)（1）LED封裝（2）準(zhǔn)直部分（3）聚光部分

從圖7可以看出來在沒有聚光鏡情況下對實際光斑光譜的測量情況。光線準(zhǔn)直后在屏幕上產(chǎn)生的光分布反映了非均勻LED芯片在封裝中的分布。圖7插入的小圖是光斑的照片。測量點1-9記錄了光譜。兩個測量點之間的距離為5厘米。這些測量點也用于圖八中。屏幕的很大一部分是藍色LED發(fā)出的光，屏幕的較小一部分（右上角）主要由紅色LED照亮。光譜被按紅色峰的高度歸一化，以顯示當(dāng)測量點從屏幕上的藍色區(qū)域轉(zhuǎn)到紅色區(qū)域時，藍紅比是如何降低的。

圖七：無聚光鏡測量的實際光譜

我們采用兩組不同的“光線集”數(shù)據(jù)來建模，以對比不同模型的差異。

在一組數(shù)據(jù)中，我們使用僅依賴于用v（λ）濾波器拍攝的亮度圖像的光線數(shù)據(jù)。這個光線數(shù)據(jù)補充圖5所示的頻譜數(shù)據(jù)，以模擬光斑上的分布。仿真結(jié)果如圖8所示。因為光線數(shù)據(jù)基于v（λ）濾光片，沒有不同顏色LED芯片光譜的信息，它無法再現(xiàn)光分布的顏色變化，在光斑不同位置的光譜形狀都是一樣的。圖8的插圖就是模擬的光斑分布。圖像中的輕微不均勻是由于不同的統(tǒng)計數(shù)據(jù)造成的，在模型中，圖像的中心使用了更多的光線。

圖八：光學(xué)模擬

為了改善這種情況，通常的做法是為一個led封裝提供兩個光線數(shù)據(jù)集，一個用于藍色光譜區(qū)域，另一個用于黃色光譜區(qū)域，然而在模擬結(jié)果中還是有很大的局限性。

第二組數(shù)據(jù)基于七個光線數(shù)據(jù)集，這些光線數(shù)據(jù)集使用了圖4的濾光片，還使用了圖5所示的輻射數(shù)據(jù)。仿真結(jié)果如圖9所示。模擬的光譜再次按紅色峰被歸一化。與一組只依賴v（λ）濾波器的模擬不同，這次模擬準(zhǔn)確地再現(xiàn)了光斑不同位置的光譜變化。

圖九：仿真結(jié)果

下一步實驗中，光學(xué)系統(tǒng)增加聚光透鏡進行擴展。模擬結(jié)果再次與測量結(jié)果進行了比較。圖10為實際光學(xué)系統(tǒng)光斑不同位置的光譜測量情況。光譜形狀以及對光譜的積分（亮度）在光斑上分布保持不變。只有在光分布的邊緣（點1和點9），光譜才偏離其均勻分布。這種情況可以被模擬準(zhǔn)確地再現(xiàn)，如圖11所示。

圖十:加聚光鏡實際測試結(jié)果

圖十一：加聚光鏡仿真結(jié)果

現(xiàn)在，我們將使用的光源模型的數(shù)據(jù)用來計算色坐標(biāo)和顯色指數(shù)。在例子中，僅用v（λ）濾波器進行的模擬不能重現(xiàn)光的分布情況，屏幕區(qū)域色溫4800 K。在使用七個帶通濾波器測試的第二組數(shù)據(jù)模擬例子，計算結(jié)果如下圖12。 

圖十二：模擬結(jié)果色溫在2400 K和5900 K之間，Ra值在92到86之間

由于在整個發(fā)光半球上采集了光線數(shù)據(jù)，并整合進了詳細的光譜信息，模擬結(jié)果與實際測量情況符合一致。

結(jié)論

使用新技術(shù)建立的光源模型在光學(xué)模擬中能真實表現(xiàn)光線在空間分布中的光譜和顏色況。與使用藍色/黃色或基于三刺激值濾波器相比，它顯著地擴大了模擬中可呈現(xiàn)的細節(jié)，這種技術(shù)的優(yōu)點是建立的光源模型，尤其是對于光譜會隨著位置與角度變化較大的光源。

這種光源通常出現(xiàn)在白色LED封裝或有多個不同顏色LED芯片組成的封裝中，還有些情況，即使使用同類型的LED，它們的發(fā)射光譜也可能因制造過程中的變化而變化。針對所有情況，在應(yīng)用中仍可以準(zhǔn)確模擬出光分布的顏色坐標(biāo)和顯色指數(shù)。

文中使用儀器為德國Opsira的多光譜近場測試儀

Gonio 2π光源近場測試系統(tǒng)

Gonio 4π光源近場測試系統(tǒng)

參考文獻：Spectral Raydata for Simulation of Color Rendering Indices